新一代SPECTROLAB的分析速度、靈活性和精度需求日益提升，PMT/CCD雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)和全新突破的CCD光學(xué)系統(tǒng)為科研和過程/質(zhì)量控制設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。實(shí)現(xiàn)了快速、準(zhǔn)確、靈活的分析性能。

兩種配置：雙檢測器光學(xué)系統(tǒng)或全CCD光學(xué)系統(tǒng)

SPECTROLAB提供高性能火花直讀光譜儀的兩種光學(xué)系統(tǒng)創(chuàng)新設(shè)計(jì)。雙檢測器模塊實(shí)現(xiàn)了“混合動力”優(yōu)勢，模擬電子技術(shù)的檢測器光電倍增管（PMT）和數(shù)字技術(shù)電荷耦合檢測器（CCD）-呈現(xiàn)超級準(zhǔn)確度多元素測量。適合于科研檢測新材料、痕量元素、夾雜物、高純金屬以及貴金屬。

全CCD模塊實(shí)現(xiàn)了快速、準(zhǔn)確、超級靈活的分析性能。尤其適合快速分析和多基體以及多元素分析的應(yīng)用。為爐前過程控制和成品質(zhì)量控制和成品質(zhì)量控制提分析結(jié)果。

靈敏度高

利益于動態(tài)背景校正等新技術(shù)，檢測限達(dá)到新水平。SPECTROLAB可以準(zhǔn)確測定百分之一（PPM）水平的痕量元素含量。

靈活的元素選擇

摒棄了以往耗時(shí)，昂貴的硬件通道擴(kuò)展方式。大多數(shù)SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無需增加硬件設(shè)置。可選的軟件擴(kuò)展設(shè)置使得用戶甚至可以不用準(zhǔn)備標(biāo)樣制作工作曲線。

高速測量

SPECTROLAB的設(shè)計(jì)是以抓住每一個(gè)機(jī)會來滿足金屬分析對速度的需求。例如，高能等離子發(fā)生器光源配合的動態(tài)預(yù)然控制，實(shí)現(xiàn)縮短優(yōu)質(zhì)試樣分析時(shí)間。因而，瞬間切換到激發(fā)測量階段。增加單位時(shí)間樣品測試數(shù)量。在許多應(yīng)用中都可以實(shí)現(xiàn)超級短的分析時(shí)間。